服務項目
晶圓測試服務
穩懋整合的晶圓測試服務提供HBT與pHEMT等製程。此服務運用標準的WAT資料庫並以PCM與SPC分析系統作為輔助,及時由CIM系統產生數據來判斷晶圓是否達到出貨標準。
穩懋也提供探針卡製作與晶圓階段電壓微波的客製化測試服務。獨家設計的探針卡可以提供低成本高效率的測試服務,以求降低客戶後端封裝測試的成本。提供的電壓微波測試服務如下:
- 直流電壓電流16-site 平行測試
- 支援1A高電流量測
- 插入損耗與諧波測試
- 4 埠向量 S 參數測試 : 單端模式 / 差分模式
- RF輸出功率測試 : Gain, P1dB, Psat, etc.
- RF高輸入功率測試 : > +10 dBm
- 直流 / 脈衝測試
- 其他測試項目